GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量

GB/T 22319的本部分规定了石英晶体元件寄生（无用）谐振的二种测量方法。
注： 与早期的方法相比，本部分改进并提高了测量的重现性和准确度。早期规定的电桥测量方法中，使用了无法满足重现性要求的元件，如可变电阻器和混合变压器。
方法A（全参数测量法）
全参数测量法可以确定寄生谐振的等效电参数，本方法使用与IEC 60444-5同样原理的测量设备。
本方法为优先测量方法，可用于测量达几千欧的中低阻抗寄生谐振。
方法B（电阻测量法）
电阻测量法应当在有规定时用于测量高阻抗寄生谐振，如某些滤波晶体。
本方法使用与方法A相同的测量设备并与规定的测试夹具连接，该夹具由市场上可获得的微波元件组成，如具有准确的50 Ω系统阻抗的180°混合耦合器和10 dB衰减器。
注： 本方法是对早期标准中“基准测量法”的改进。

标准编号：GB/T 22319.9-2018
标准名称：石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-10-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会、成都天奥电子股份有限公司、武汉海创电子股份有限公司
起草人员：章怡、黄浩、毛晶
文件大小：390.11KB
文件格式：PDF
文件页数：12页

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