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GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法

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发表于 2022-1-9 05:29:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了多晶硅中基硼含量的测试方法。
本标准适用于在硅芯上沉积生长的多晶硅棒中基硼含量的测定。基硼含量(原子数)测定范围为0.01×10ˇ13 cmˇ-3~5×10ˇ15 cmˇ-3。

标准编号:GB/T 4060-2018
标准名称:硅多晶真空区熔基硼检验方法
英文名称:Test method for boron content in polycrystalline silicon by vacuum zone-melting method
发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-06-01
标准状态:现行
替代情况:替代GB/T 4060-2007
起草单位:江苏中能硅业科技发展有限公司、亚洲硅业(青海)有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、峨嵋半导体材料研究所
起草人员:胡伟、刘晓霞、耿全荣、鲁文锋、王桃霞、胡自强、宗冰、肖建忠、万烨、杨旭
文件大小:287.13KB
文件格式:PDF
文件页数:7页

标准全文下载:
GBT 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法.pdf (287.13 KB)

封面截图如下:
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