GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾

GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。
本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
本试验是破坏性试验。
本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准编号：GB/T 4937.13-2018
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13:Salt atmosphere
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学微电子研究院、无锡必创传感科技有限公司
起草人员：张艳杰、彭浩、李树杰、岳振鹏、崔波、高金环、裴选、张天福、迟雷、张威、陈得民、周刚
文件大小：261.95KB
文件格式：PDF
文件页数：5页

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