本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。
本标准适用于4 μm～300 μm的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒。
标准编号：GB/T 37406-2019
标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
英文名称：Detection method of degree of sphericity of spherical silica for electronic packaging—Particle dynamic photoelectric projection method
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2019-05-10
实施日期：2019-12-01
标准状态：现行
起草单位：江苏联瑞新材料股份有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子(连云港)有限公司
起草人员：曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪、姜兵、封丽娟、李冰、陈进、夏永生、戴春明、马涛
文件大小：241.13KB
文件格式：PDF
文件页数：6页
标准全文下载：
GBT 37406-2019.pdf
(241.13 KB)
封面截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(qbw86@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
发表于 2022-1-16 02:30:00