本文件描述了测量高纯锗晶体基本特征的术语和试验方法。包括电活性杂质净浓度(NA-ND)、深能级杂质中心浓度和晶体学特性。
本文件适用于γ射线和X射线辐射探测器用高纯锗晶体。此锗单晶的电活性杂质中心的净浓度小于10ˇ11 cmˇ-3，通常是10ˇ10 cmˇ-3量级。
本文件中所列测试方法并非法定方法，但在工业中得到了广泛的应用，并为探测器制造商提供了可验证的信息，满足了制造商的需求。在GB/T 7167-2008和GB/T 11685-2003中给出了完整的组装锗探测器的试验方法。
标准编号：GB/T 40291-2021
标准名称：核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
英文名称：Nuclear instrumentation—High-purity germanium crystals for radiation detectors—Measurement methods of basic characteristics
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2021-05-21
实施日期：2021-12-01
标准状态：现行
起草单位：核工业航测遥感中心、深圳市计量质量检测研究院
起草人员：张积运、杜晓立、唐晓川、李名兆、管少斌、周宗杰、张长兴、梁永顺、刘金尧、刘姗姗
文件大小：607.95KB
文件格式：PDF
文件页数：25页
标准全文下载：
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发表于 2022-2-17 22:32:40