本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外，本文件的某些部分适用于相关领域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。
标准编号：GB/T 40300-2021
标准名称：微束分析 分析电子显微学 术语
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2021-08-20
实施日期：2022-03-01
标准状态：现行
起草单位：北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
起草人员：柳得橹、汤斌兵、贺连龙
文件大小：624.51KB
文件格式：PDF
文件页数：34页
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GBT 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语.pdf
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发表于 2022-2-19 16:42:16