SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻

规定了半导体红外发射二极管串联电阻的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
标准编号：SJ/T 2658.5-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 5:Series connection resistance
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准状态：现行
替代标准：SJ/T 2658.5-1986，
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：2.83MB

标准全文下载：
SJT 2658.5-2015.pdf (2.83 MB)

2021-10-19 01:13 上传

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