SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
标准编号：SJ/T 11699-2018
标准名称：IP核可测性设计指南
英文名称：Guidelines for design for testability of IP cores
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准状态：现行
起草单位：哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学
文件格式：PDF
文件页数：20页
文件大小：11.97MB

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2022-1-15 08:44 上传

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