GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。

标准编号：GB/T 42975-2023
标准名称：半导体集成电路 驱动器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司
起草人员：刘芳、周俊、杨晓强、纵雷、刘凡、霍玉柱、林瑜攀、陆坚、梁希、王会影
文件大小：1.48MB
文件格式：PDF
文件页数：26页

标准全文下载：
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2024-4-30 16:25 上传

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