T/ZSA 185-2023 汽车用集成电路失效分析程序与要求

本文件规定了汽车用集成电路失效分析的总则、一般要求和详细程序与要求。本文件适用于汽车用集成电路的失效分析。

标准编号：T/ZSA 185-2023
标准名称：汽车用集成电路失效分析程序与要求
英文名称：Failure analysis procedures and requirements for automotive integrated circuits
发布部门：中关村标准化协会
发布日期：2023-12-04
实施日期：2023-12-05
标准状态：现行
起草单位：北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中国空间技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、南京芯驰半导体科技有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京华为数字技术有限公司、浙江大学、上海电驱动股份有限公司、紫光展锐（上海）科技有限公司、杭州士兰微电子股份有限公司、兆易创新科技集团股份有限公司、重庆长安汽车股份有限公司、圣邦微电子（北京）股份有限公司、中国重型汽车集团、北京东土科技股份有限公司、北京国创先进技术认证有限公司、北京经济技术开发区国创芯联汽车芯片技术研究中心、莱茵检测认证服务（中国）有限公司、中认百链（南京）科技有限公司
起草人员：隗合朋、雷黎丽、吴倩、陈赛华、段超、庞振江、单书珊、周昕、尹研、蔡威、李斌、张焕、宋占坤、罗浩泽、温小伟、周晓萌、刘骑、曹杰敏、卜尔龙、史有强、谢先立、邓晓、涂卓麟、郭庆波、高崧林、张洪硕、邹广才、刘英、施兵、高翔
文件大小：424.17KB
文件格式：PDF
文件页数：15页

标准全文下载：
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2024-1-26 20:32 上传

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