T/BSPT 6-2024 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。
本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。

标准编号：T/BSPT 6-2024
标准名称：颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
英文名称：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy
发布部门：北京粉体技术协会
发布日期：2024-11-18
实施日期：2024-11-25
标准状态：现行
起草单位：国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股份公司，国家纳米科学中心、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体技术协会
起草人员：李婷、常怀秋、杜志伟、白露、贾荣光、齐笑迎、韩小磊，朱晓阳、车聪、高原、郎爽、毛璐、周素红
文件大小：589.51KB
文件格式：PDF
文件页数：12页

标准全文下载：
TBSPT 6-2024.pdf (589.51 KB)

2025-1-15 23:33 上传

点击文件名下载附件

封面截图如下：