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GB/T 42968.4-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法

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发表于 2025-2-11 20:31:54 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件规定了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下集成电路(IC)抗扰度的测量方法,例如,由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。
本方法确保抗扰度测量的高度可重复性和相关性。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。

标准编号:GB/T 42968.4-2024
标准名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法
英文名称:Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4: Direct RF power injection method
发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:2024-12-31
实施日期:2024-12-31
标准状态:现行
起草单位:中国电子技术标准化研究院、南京容测检测技术有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、上海市计量测试技术研究院、苏州菲利波电磁技术有限公司、安徽省计量科学研究院、中国信息通信研究院、深圳市铨兴科技有限公司、重庆邮电大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、东莞职业技术学院、上海精密计量测试研究所
起草人员:张强、崔强、沈学其、乔彦彬、方文啸、吴建飞、刘小军、王少启、付君、杨博、李金龙、崔培宾、廉鹏飞、史锁兰、黄旭彪、张红升、刘洋、鲍晶晶
文件大小:3.79MB
文件格式:PDF
文件页数:23页

标准全文下载:
GBT 42968.4-2024.pdf (3.79 MB)

封面截图如下:
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