GB/T 46227-2025 半导体单晶材料透过率测试方法

本文件描述了半导体单晶材料在波长0.2μm~300μm 范围内透过率的测量方法。
本文件适用于硅、锗、磷化铟、硒化镉、硫化镉、碳化硅、氮化镓、氧化镓、蓝宝石、金刚石等半导体单晶材料透过率的测定。

标准编号：GB/T 46227-2025
标准名称：半导体单晶材料透过率测试方法
英文名称：Test method for transmittance of semiconductor single crystal materials
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-08-29
实施日期：2026-03-01
文档格式：PDF
文档页数：9页
文档大小：350.48KB

标准全文下载：
GBT 46227-2025 半导体单晶材料透过率测试方法.pdf (350.48 KB)

3 天前 上传

点击文件名下载附件

封面截图如下：