本文件规定了忆阻器测试装置与环境条件要求,描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法,并规定了测试报告要求。
本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。
标准编号：GB/T 46567.1-2025
标准名称：智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性
英文名称：Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1：Basic characteristics
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-10-31
实施日期：2025-10-31
文档格式：PDF
文档页数：16页
文档大小：546.53KB
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发表于 2025-11-7 11:33:02