本文件描述了微波介质陶瓷介电性能测试方法(开腔法与闭腔法)的测试原理、测试条件、仪器设备、测试样品、测试步骤、测试报告、计算过程及测量不确定度。
本文件适用于均匀的圆柱形微波介质陶瓷。开腔法中,测试频率范围为2 GHz~24 GHz,相对介电常数的测试范围为3~300,损耗角正切值的测试范围为10-4~6×10-3,谐振频率温度系数的测试范围为-1 500×10-6/℃~1 500×10-6/℃。闭腔法中,测试频率范围为1 GHz~32 GHz,相对介电常数的测试范围为3~300、损耗角正切值的测试范围为2×10-5~10-2。
本文件也适用于其他低损耗、无磁性固体电介质微波介电性能的测试。
标准编号：GB/T 46583-2025
标准名称：微波介质陶瓷介电性能测试方法 开腔法、闭腔法
英文名称：Test methods for dielectric properties of microwave dielectric ceramics—Open cavity method and closed cavity method
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-10-31
实施日期：2026-05-01
文档格式：PDF
文档页数：22页
文档大小：645.80KB
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GBT 46583-2025.pdf
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发表于 2025-11-20 11:34:54