本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC)对半导体量子点（QDs)荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。
本文件适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。
标准编号：GB/Z 37664.3-2025
标准名称：纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命
英文名称：Nanomanufacturing—Key control characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3：Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-12-03
实施日期：2025-12-03
起草单位：深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司、中国计量大学、国家纳米科学中心、广纳珈源（广州）科技有限公司、杭州美联医学股份有限公司、复旦大学义乌研究院、北京北达聚邦科技有限公司、南开大学、纳晶科技股份有限公司、天美仪拓实验室设备（上海）有限公司
起草人员：刘祖刚、蔡培庆、刘忍肖、康永印、赵飞、葛广路、庞代文、朱小波、郭海清、吕碧琪、张振星
文件格式：PDF
文件页数：17页
文件大小：7.49 MB
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