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JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率 测量方法

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发表于 2021-6-5 09:44:08 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准适用于利用V梭镜方法测I光学晶体的折射率。
测量谱线为d,D,C,F,r,e,g,h八种谱线,测盆情度:Δn=±3×10-5。
标准编号:JB/T 9495.2-1999
标准名称:光学晶体折射率 测量方法
英文名称:Measuring method for refractive index of optical crystals
发布部门:国家机械工业局
发布日期:1999-08-06
实施日期:2000-01-01
标准状态:现行
替代情况:替代ZB N05001.2-1986
起草单位:北京玻璃研究所
文件格式:PDF
文件页数:6页
文件大小:111.84KB

标准全文下载:
JBT 9495.2-1999 光学晶体折射率 测量方法.pdf (111.84 KB)

文档首页截图如下:
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