JB/T 7777.2-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分：EDTA容量法测定铟量

JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。
本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟质量分数的测定。测定范围：1.00%～5.00%。
标准编号：JB/T 7777.2-2008
标准名称：银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分：EDTA容量法测定铟量
英文名称：Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material-Part 2:Determination of indium
发布部门：国家发展和改革委员会
发布日期：2008-02-01
实施日期：2008-07-01
标准状态：现行
替代情况：替代JB/T 7777.2-1995
起草单位：桂林电器科学研究所、上海电科电工材料有限公司、中希合金有限公司、安平县飞畅电工合金有限公司、广州市银玑电工合金有限公司、佛山精密电工合金有限公司、瑞安市贵金电工合金材料有限公司、绍兴县宏峰化学金属制品厂、温州宏丰电工合金有限公司
文件格式：PDF
文件页数：5页
文件大小：79.02KB

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