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JB/T 11276-2012 无损检测仪器 超声波探头型号命名方法

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发表于 2021-8-16 17:33:14 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了压电式超声探伤用直探头、斜探头、双晶探头、液浸探头、表面波探头和可变角探头的型号组成项目、标称频率、压电材料、晶片尺寸、种类、特征等型号命名方法。
本标准适用于压电式超声探伤用探头。
标准编号:JB/T 11276-2012
标准名称:无损检测仪器 超声波探头型号命名方法
英文名称:Non-destructive testing instruments-Nomenclatures for models of probes in ultrasonic
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2012-05-24
实施日期:2012-11-01
标准状态:现行
起草单位:常州超声电子有限公司、广东汕头超声电子股份有限公司超声仪器分公司、辽宁仪表研究所、北京铁道科学仪器设备有限公司
文件格式:PDF
文件页数:7页
文件大小:280.74KB

标准全文下载:
JBT 11276-2012.pdf (280.74 KB)

文档首页截图如下:
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