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JB/T 11779-2014 无损检测仪器 相控阵超声检测仪技术条件

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发表于 2021-9-19 02:48:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了相控阵超声检测仪(以下简称相控阵检测仪)的术语和定义、符号和含义、要求、检 验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于检测频率在0.2 MHz〜25 MHz范围内的相控阵检测仪。
标准编号:JB/T 11779-2014
标准名称:无损检测仪器 相控阵超声检测仪技术条件
英文名称:Non-destructive testing instrument-Specifications for phased array ultrasonic testing instruments
发布部门:工业和信息化部
发布日期:2014-05-06
实施日期:2014-10-01
标准状态:现行
起草单位:广东汕头超声电子股份有限公司超声仪器分公司、武汉中科创新技术股份有限公司、南昌铁路局工务检测所、南通友联数码技术开发有限公司、华南理工大学电子与信息学院、辽宁仪表研究所、云南省特种设备安全检测研究院、常州超声电子有限公司、太原重型机械集团有限公司、黑龙江省电力科学研究院金属所、宝鸡机车检修厂、广州多浦乐电子科技有限公司
文件格式:PDF
文件页数:26页
文件大小:2.71MB

标准全文下载:
JBT 11779-2014.pdf (2.71 MB)

文档首页截图如下:
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