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SN/T 3480.4-2016 进口电子电工行业成套设各检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设各

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发表于 2022-1-3 08:05:54 | 显示全部楼层 |阅读模式
SN/T 3480的本部分规定了进口电子电工行业成套设备之半导体封装测试设备(以下简称“成套半导体封装测试设备”)的检验技术要求。
本部分适用于3.1所列举的成套半导体封装测试设备的检验。

标准编号:SN/T 3480.4-2016
标准名称:进口电子电工行业成套设各检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设各
英文名称:Technical requirements for the inspection of complete set of equipment in electronic and electrical industry for import—Part 4:Semiconductor package and final test equipment
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2016-08-23
实施日期:2017-03-01
标准状态:现行
起草单位:中华人民共和国上海出入境检验检疫局、中华人民共和国福建出入境检验检疫局、中华人民共和国厦门出入境检验检疫局、中华人民共和国重庆出入境检验检疫局、中华人民共和国天津出入境检验检疫局
起草人员:靳付周、李秀平、任焕西、吴非、郑轮、滕明华、方斌、乔治、陈磊、唐军
文件大小:266.70KB
文件格式:PDF
文件页数:8页

标准全文下载:
SNT 3480.4-2016.pdf (266.7 KB)

封面截图如下:
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