本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像，获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。
本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒，具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。
标准编号：GB/T 45114-2024
标准名称：纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
英文名称：Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2024-12-31
实施日期：2025-07-01
标准状态：现行/即将实施
起草单位：中国计量科学研究院、测试狗（成都）实验检测有限公司、河南科技大学、中铝科学技术研究院有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、北京智芯微电子科技有限公司、山东省计量科学研究院、清华大学深圳国际研究生院、上海交通大学、中南大学、西南科技大学、南京市计量监督检测院
起草人员：李旭、任玲玲、张毅、王宇婷、黄鹭、娄花芬、莫永达、曹丛、刘伟丽、李适、马拥军、王俪颖、郭新秋、刘俊杰、赵东艳、梁霄鹏、雷前、高思田、施玉书、崔磊、王亚磊
文件大小：23.85MB
文件格式：PDF
文件页数：73页
标准全文下载：
GBT 45114-2024.pdf
(23.85 MB)
封面截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(qbw86@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
发表于 2025-2-11 20:34:29