SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法

本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。
本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
标准编号：SJ/T 11702-2018
标准名称：半导体集成电路 串行外设接口测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：12页
文件大小：6.29MB

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