JB/T 13686-2019 光栅编码器加速寿命试验方法

显示全部楼层 · 发表于 2022-1-4 21:36:22

本标准规定了光栅编码器的加速寿命试验方法的术语和定义、加速寿命试验方法、寿命评估等。
本标准适用于光栅编码器的加速寿命试验。
标准编号：JB/T 13686-2019
标准名称：光栅编码器加速寿命试验方法
英文名称：Grating encoders-Accelerated life tests methods
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2019-08-02
实施日期：2020-04-01
标准状态：现行
起草单位：长春禹衡光学有限公司、吉林大学机械学院、中国计量科学研究院、中科院光电技术研究所、国家机床质量监督检验中心、华中科技大学、北京中科恒业中自技术有限公司、无锡市科瑞特精机有限公司、贵阳新豪光电有限公司、珠海市恰信测量科技有限公司、廊坊开发区莱格光电仪器有限公司、长春荣德光学有限公司、西安交大机械制造系统工程国家重点实验室、长春三峰光电仪器制造有限公司
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：333.31KB

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JB/T 13686-2019 光栅编码器 加速寿命试验方法

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