GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

显示全部楼层 · 发表于 2021-12-29 15:28:08

本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。
本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

标准编号：GB/T 35003-2018
标准名称：非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
英文名称：Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司
起草人员：罗晓羽、董艺、郭晓宇、高硕、刘妙、谢休华
文件大小：245.97KB
文件格式：PDF
文件页数：7页

标准全文下载：

GBT 35003-2018.pdf (245.97 KB)

封面截图如下：

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GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

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