GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法

显示全部楼层 · 发表于 2022-1-10 07:55:52

本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示方法。
本标准适用于半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示，其他半导体材料牌号表示可参照执行。

标准编号：GB/T 14844-2018
标准名称：半导体材料牌号表示方法
英文名称：Designations of semiconductor materials
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-11-01
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 14844-1993
起草单位：浙江省硅材料质量检验中心、有色金属技术经济研究院、有研半导体材料有限公司、浙江海纳半导体有限公司、东莞中镓半导体科技有限公司、南京国盛电子有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、苏州协鑫光伏科技有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司
起草人员：楼春兰、毛卫中、杨素心、汪新华、邹剑秋、孙燕、潘金平、刘晓霞、马林宝、宫龙飞、张雪囡、丁晓民、贺东江
文件大小：246.83KB
文件格式：PDF
文件页数：8页

标准全文下载：

GBT 14844-2018 半导体材料牌号表示方法.pdf (246.83 KB)

封面截图如下：

		自动登录	找回密码
密码			立即注册

GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法

浏览过的版块