GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

显示全部楼层 · 发表于 2022-1-10 08:50:16

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。
本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。
本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。

标准编号：GB/T 1550-2018
标准名称：非本征半导体材料导电类型测试方法
英文名称：Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-11-01
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 1550-1997
起草单位：乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、广州市昆德科技有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、浙江海纳半导体有限公司、新特能源股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、峨嵋半导体材料研究所、洛阳中硅高科技有限公司、中锗科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司
起草人员：梁洪、王莹、赵晓斌、高英、王昕、王飞尧、黄黎、徐红骞、邱艳梅、刘晓霞、杨旭、张园园、刘新军、徐远志、程小娟、潘金平、肖宗杰
文件大小：409.08KB
文件格式：PDF
文件页数：13页

标准全文下载：

GBT 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法.pdf (409.08 KB)

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GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

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