本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。
本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。
标准编号:QB/T 1135-2006
标准名称:首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
英文名称:Jewellery-Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods
发布部门:中华人民共和国国家发展和改革委员会
发布日期:2006-08-19
实施日期:2006-12-01
标准状态:现行
替代标准:QB/T 1135-1991,
文件格式:PDF
文件页数:6页
文件大小:1.74MB
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