本标准规定了采用钴60y射线对宇航用半导体器件（以下简称器件）进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。
本标准适用宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。
标准编号：QJ 10004-2008
标准名称：宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法
英文名称：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
发布部门：国防科学技术工业委员会
发布日期：2008-02-16
实施日期：2008-06-01
文件格式：PDF
文件页数：22页
文件大小：4.78MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
