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SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

junmano
童生

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电子行业标准(SJ) 273 0 2021-10-3 19:15:32
本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。
标准编号:SJ/T 11488-2015
标准名称:半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
英文名称:Test method for measuring resistivity hall coefficient and determining hall mobility in semi-insulating GaAs single crystals
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
起草单位:信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司、天津中环领先材料技术有限公司
文件格式:PDF
文件页数:8页
文件大小:3.27MB

标准全文下载:
上传的附件: SJT 11488-2015.pdf (3.27 MB, 下载次数: 0)


文档首页截图如下:
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