本标准规定了采用光致发光测试系统对表面经过处理的磷镓砷（GaAs1-xPx）晶片组分进行测试的方法。
标准编号：SJ/T 11492-2015
标准名称：光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
英文名称：Test methods for measurement of composition of gallium arsenide phosphide wafers by photoluminescence
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：1.75MB
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