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SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法

yashu
童生

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电子行业标准(SJ) 253 0 2021-10-4 10:30:26
本标准规定了硅单晶中硼、磷杂质的光致发光测试方法。
标准编号:SJ/T 11494-2015
标准名称:硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
英文名称:Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
文件格式:PDF
文件页数:10页
文件大小:2.62MB

标准全文下载:
上传的附件: SJT 11494-2015.pdf (2.62 MB, 下载次数: 0)


文档首页截图如下:
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