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SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

Howman
童生

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电子行业标准(SJ) 245 0 2021-10-5 04:17:49
本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶的结晶类型的方法。
标准编号:SJ/T 11501-2015
标准名称:碳化硅单晶晶型的测试方法
英文名称:Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
文件格式:PDF
文件页数:8页
文件大小:1.49MB

标准全文下载:
上传的附件: SJT 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法.pdf (1.49 MB, 下载次数: 0)


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