标准的主要内容包括PIN雪崩光电二极管的反向击穿电压暗电流等参数的术语和定义测试原理测试步骤测试条件。
标准编号：SJ/T 2354-2015
标准名称：PIN、雪崩光电二极管测试方法
英文名称：Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
替代标准：SJ 2354.1-1983,SJ 2354.2-1983,SJ 2354.3-1983,SJ 2354.4-1983,SJ 2354.5-1983,SJ 2354.6-1983,SJ 2354.7-1983,SJ 2354.8-1983,SJ 2354.9-1983,SJ 2354.10-1983,SJ 2354.11-1983,SJ 2354.12-1983,SJ 2354.13-1983,S，
文件格式：PDF
文件页数：32页
文件大小：4.94MB
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发表于 2021-10-9 04:52:11