SJ/T 11011-2015 电子器件用纯银钎料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测试方法

电子行业标准(SJ) · 2021-10-13 18:08:58

本标准规定了采用ICP-AES测定电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测试方法。
本标准适用于电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测定。
标准编号：SJ/T 11011-2015
标准名称：电子器件用纯银钎料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测试方法
英文名称：Test method for lead, bismuth, zinc, cadmium, iron, magnesium, aluminium, tin, antimony and phosphorus in pure silver brazing for electron device by ICP-AES
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
替代标准：SJ/T 11012-1996,SJ/T 11013-1996,SJ/T 11015-1996,SJ/T 11017-1996,SJ/T 11019-1996,SJ/T 11014-1996,SJ/T 11016-1996,SJ/T 11011-1996，
文件格式：PDF
文件页数：10页
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