规定了半导体红外发射二极管正向电压的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
标准编号：SJ/T 2658.2-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 2:Forward voltage
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
替代标准：SJ/T 2658.2-1986，
文件格式：PDF
文件页数：5页
文件大小：2.62MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
