规定了半导体红外发射二极管辐射通量的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
标准编号：SJ/T 2658.7-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 7:Radiant flux
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
替代标准：SJ/T 2658.7-1986，
文件格式：PDF
文件页数：5页
文件大小：2.79MB
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