SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法第9部分：辐射强度空间分布和半强度角

显示全部楼层 · 发表于 2021-10-19 11:23:04

规定了半导体红外发射二极管辐射强度空间分布和半强度角的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
标准编号：SJ/T 2658.9-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode -Part 9:Spatial distribution of radiant intensity and half-intensity angle
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准状态：现行
替代标准：SJ/T 2658.9-1986，
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：3.32MB

标准全文下载：

SJT 2658.9-2015.pdf (3.32 MB)

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