本标准规定了OLED产品残像试验方法和寿命测试方法。标准的范围为OLED显示器的屏体和模组。残像试验方法充分考虑了不同应用情况的显示器的异同点，对残像的测试图形，以及残像最终的表示方法都有明确和科学的规定。寿命测试方法主要针对亮度衰减进行了相关规定，同时还通过附录的形式采用了加速衰减的方式并可通过公式去推算显示器的寿命。
标准编号：SJ/T 11461.5.3-2016
标准名称：有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法
英文名称：Organic light emitting diode (OLED) displays-Part 5-3: Measuring methods of image sticking and lifetime
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2016-01-15
实施日期：2016-06-01
文件格式：PDF
文件页数：21页
文件大小：4.08MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
