本部分规定了半导体红外发射二极管结温的测量原理图、测量步骤以及规定条件。适用于半导体红外发射二极管。
标准编号：SJ/T 2658.14-2016
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode -Part 14: Junction temperature
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2016-01-15
实施日期：2016-06-01
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：2.29MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
