本标准规定了太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法，主要内容包括规范性引用文件、术语和定义、方法原理、干扰因素、仪器设备、试样要求、测试环境、测试程序、精密度和试验报告等。
标准编号：SJ/T 11632-2016
标准名称：太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
英文名称：Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：10页
文件大小：5.10MB
标准全文下载：
SJT 11632-2016.pdf
(5.1 MB)
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发表于 2021-11-22 21:20:09