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SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

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童生

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电子行业标准(SJ) 261 0 2021-12-6 00:28:05
本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。
本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。
标准编号:SJ 21160-2016
标准名称:微波组件低气压检漏试验方法
英文名称:Low pressure leak detection test method for microwave assembly
发布部门:国家国防科技工业局
发布日期:2016-12-14
实施日期:2017-03-01
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
文件格式:PDF
文件页数:8页
文件大小:5.16MB

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