本标准规定了微波元器件低温环境下s参数的测试方法。
本标准适用于微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻)低温环境下的S参数测试。
标准编号：SJ 21343-2018
标准名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称：Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：1.48MB
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