本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。
本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法。
标准编号：SJ 21347-2018
标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
文件格式：PDF
文件页数：11页
文件大小：2.10MB
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