本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
标准编号：SJ/T 11706-2018
标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
文件格式：PDF
文件页数：30页
文件大小：5.62MB
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