SY/T 7410的本部分规定了聚焦离子束切片技术测定岩石三维孔隙结构的方法及质量要求。
本部分适用于岩石样品的微一纳米级孔隙结构分析。
标准编号：SY/T 7410.2-2020
标准名称：岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法
英文名称：3D pore structure characterization of rocks-Part 2: FIB-SEM method
发布部门：国家能源局
发布日期：2020-10-23
实施日期：2021-02-01
文件格式：PDF
文件页数：12页
文件大小：1.94MB
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