YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

显示全部楼层 · 发表于 2021-7-6 11:40:49

本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业镓[99.9％≤ω(%)≤99.995％]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。

标准编号：YS/T 666-2008
标准名称：工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布部门：国家发展和改革委员会
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
标准状态：现行
起草单位：中国铝业股份有限公司河南分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司贵州分公司
起草人员：梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇
文件大小：510.55KB
文件格式：PDF
文件页数：6页

标准全文下载：

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