本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业镓[99.9％≤ω(%)≤99.995％]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。
标准编号：YS/T 666-2008
标准名称：工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布部门：国家发展和改革委员会
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
起草单位：中国铝业股份有限公司河南分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司贵州分公司
起草人员：梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇
文件大小：510.55KB
文件格式：PDF
文件页数：6页
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