本标准规定了高纯镓中硅含量的测定方法。
本标准适用于镓（99.9999％）中硅含量的测定。测定范围0.00001％～0.00005％。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》为YS／T38的第1部分。
YS／T38《高纯镓化学分析方法》分为两个部分：
第1部分：《高纯镓化学分析方法硅量的测定钼蓝分光光度法》；
第2部分：《高纯镓化学分析方法镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定电感耦合等离子体质谱法》。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》代替对YS／T38．1—1992《高纯镓化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量》。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》与YS／T38．1—1992相比，主要有如下变动：对原方法表述格式进行了修改。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
标准编号：YS/T 38.1-2009
标准名称：高纯镓化学分析方法 第1部分：硅量的测定 钼蓝分光光度法
英文名称：Chemical analysis methods of High pure gallium-Part 1: Determination of silicon content-Molybdenum blue spectrophotometry
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2009-12-04
实施日期：2010-06-01
替代情况：替代YS/T 38.1-1992
起草单位：北京有色金属研究总院、株洲冶炼集团、峨嵋半导体厂
文件大小：393.10KB
文件格式：PDF
文件页数：5页
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