本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。
本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。《X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量》由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。《X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量》附录A为资料性附录。《X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量》由中国铝业股份有限公司广西分公司负责起草。《X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量》参加起草单位：中国铝业股份有限公司郑州研究院、洛阳香江万基铝业有限公司、中国铝业有限公司河南分公司。
标准编号：YS/T 702-2009
标准名称：X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
英文名称：Determination of silicon oxide,iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method
发布部门：国家发展和改革委员会
发布日期：2009-12-04
实施日期：2010-06-01
起草单位：中国铝业股份有限公司广西分公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、洛阳香江万基铝业有限公司、中国铝业有限公司河南分公司
文件大小：536.21KB
文件格式：PDF
文件页数：6页
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