本部分规定了氧化钴中硅量的测定方法。
本部分适用于氧化钴中硅量的测定。测定范围：0.0010%～0.050%。《氧化钴化学分析方法(第5部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》为YS／T710的第5部分。《氧化钴化学分析方法(第5部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》代替YS／T256——2000《氧化钴》附录F。与YS／T256——2000《氧化钴》附录F相比，《氧化钴化学分析方法(第5部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》主要有如下变动：用钼蓝分光光度法代替发射光谱法；补充了精密度与质量保证和控制条款。《氧化钴化学分析方法(第5部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
标准编号：YS/T 710.5-2009
标准名称：氧化钴化学分析方法 第5部分：硅量的测定 钼蓝分光光度法
英文名称：Method for chemical analysis of cobalt oxide-Part 5:Determination of silicon content-Molybdenum blue spectrophotometry
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2009-12-04
实施日期：2010-06-01
起草单位：株洲冶炼集团股份有限公司、金川集团有限公司、赣州钴钨有限责任公司
文件大小：379.16KB
文件格式：PDF
文件页数：5页
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